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x射線熒光鍍層測厚儀

簡要描述:x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款應用廣泛的能量色散型x射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設計,是用于質量控制,質量檢驗和生產監控的Z合適的測量儀器。

  • 產品型號:X-RAY XDLM237
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2018-05-31
  • 訪  問  量:14203
產品詳情

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動或自動方式,測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應用領域有:

1,測量大規模生產的電鍍零部件

2,測量微小區域上的薄鍍層

3,測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

4,全自動測量,如測量印刷線路板

德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計為界面友好的臺式測量儀器系列,配備了馬達驅動的X/Y工作臺,當保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程Z軸升降系統。

高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的調整。

所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM?軟件在電腦上完成。

XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準,型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規規定。

為每次測量創造理想的激發條件,儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。

FISCHERSCOPE?-X-RAY XDLM237系統有著出色的性和良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器,節省時間和精力。

由于采用了基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。


德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數規格:

通用規格

設計用途

能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構, 分析合金和微量組分。

元素范圍

從元素 (17) (92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時,zui多可同時測定24種元素

形式設計

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

從上到下


X射線源

X射線管

帶鈹窗口的微聚焦鎢管

高壓

三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

孔徑(準直器)

標準(523-440

可選(523-366

可選(524-061

4個可切換準直器

[mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

基本濾片

3種可切換的基本濾片(標準配置:鎳,鋁,無)

測量點

取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* zui小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm(選用準直器0.05x0.05 mm時)



X射線探測

X射線接收器

測量距離

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用保護的DCM測量距離補償法


視頻系統

視頻系統

高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進行監控 十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸) 可調節亮度的LED照明,激光光點用于定位樣品

放大倍數

40x - 160x

電氣參數

電源要求

交流 220 V 50 Hz

功率

zui大 120 W (不包括計算機)

保護等級

IP40

尺寸規格

外部尺寸

xx[mm]570 x 760 x 650

內部測量室尺寸

重量

xx[mm]460 x 495 x 146

120kg


工作臺

設計

馬達驅動可編程X/Y平臺

zui大移動范圍                    255 × 235 mm

X/Y平臺移動速度                 80 mm/s

X/Y平臺移動重復精度             0.01 mm, 單向

可用樣品放置區域                300 × 350 mm

Z                            可編程運行

Z軸移動范圍                    140 mm

樣品zui大重量                    5 kg,降低精度可達20kg

樣品zui大高度                    140 mm

環境要求

使用時溫度

10°C – 40°C

存儲或運輸溫度

0°C – 50°C

空氣相對濕度

95 %, 無結露

計算單元

計算機

帶擴展卡的計算機系統

軟件

標準: WinFTM? V.6 LIGHT 可選: WinFTM? V.6 BASIC,PDM?,SUPER

執行標準

CE合格標準

EN 61010

X射線標準

DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式批準

安全而保護全面的測量儀器, 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規規定。

訂貨號

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

604-347





如有特殊要求,可與FISCHER磋商,定制特殊的XDLM型號。


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